當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 日本電子 JEOL > 掃描電子顯微鏡 > JSM-IT200 InTouchScope™掃描電子顯微鏡
簡要描述:JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。凝聚了日本電子50年來的SEM技術(shù)精華,外形設(shè)計(jì)緊湊。新開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型,不僅保持了InTouchScope系列*的可操作性,還擁有能與Gao端機(jī)型相媲美的可擴(kuò)展性,應(yīng)用范圍可涵蓋 以生物技術(shù)和納米技術(shù)為首的包括材料開發(fā)、測試、評估和缺陷分析及質(zhì)量控制等廣泛領(lǐng)域。
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JSM-IT200是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航,可以輕松地從樣品臺(tái)搜索視野并開始觀察SEM圖像。Zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,Live Analysis*²可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果,SMILE VIEWTM Lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等,使它成為一個(gè)分析業(yè)務(wù)的軟件。
立即觀察!立即分析!立即報(bào)告!JEOL InTouchScope™系列*的三個(gè)功能使分析裝置成為一種工具。
完成樣品交換的同時(shí)觀察開始,樣品交換導(dǎo)航
樣品交換導(dǎo)航是從打開樣品室到開始觀察過程中進(jìn)行導(dǎo)航的功能。
立即觀察! Zeromag觀察
使用主窗口顯示的樣品臺(tái)示意圖和光學(xué)CCD 圖像 *¹ ,進(jìn)行視野搜尋和定分析位置。
立即分析!Live Analysis分析*²
掃描電子顯微鏡通過顯示譜圖和顯示元素,能確認(rèn)正在觀察中的視野的譜圖及主要元素。
立即報(bào)告!SMILE VIEWTM Lab 數(shù)據(jù)集中管理
按下數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)并顯示數(shù)據(jù)管理窗口后,從SEM圖像到分析,對全部數(shù)據(jù)能創(chuàng)建批量報(bào)告 、查看數(shù)據(jù)并重新分析數(shù)據(jù)。
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